На онлайн-семинаре специалисты Института искусственного интеллекта AIRI говорят об использовании графовых нейронных сетей для диагностики неисправностей в технологических процессах. Рассматривается извлечение информации о скрытых взаимосвязях между частями оборудования. Исследователи AIRI проанализировали результаты эксперимента, а также предложили модель, использующую несколько графовых структур.

Докладчик ― Александр Коваленко, AIRI.

Оппонент ― Михаил Гущин, ВШЭ.